企业等级: | 普通会员 |
经营模式: | 生产加工 |
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测距测高仪来源
1969年,Hildebrand和Haines从相干光学的观点出发,提出了一种采用双波长光源的全信息等高技术。它可以在物体上生成等高线,环保激光测距仪公司,等高线的分辨率取决于光源波长,且不能任意变化。Hildebrand和Haines提出的另一种方法是由两个具有不同波长的点光源产生的干涉条纹在物体上生成等高线,与前一种方法相比,第二种方法产生的等高线图的分辨率可以从波长级变化到忽米级。对于双光源系统来说,其主要问题是,若物体上有一些“漩涡花样”,电力激光测距仪公司,特定区域将不能清晰地描绘出全息等高图。相关测量法对测量环境要求极高,一般只能在实验室条件下测量,且不易于实现自动化。
测距测高仪测量过程
激光测距仪所能测量的量程取决于待测目标的形状、大小、反射性、所向以及空气条件,目标的颜色和表面的涂漆色彩同样也会对量程产生影响。对于浅色的,反射面积较大的非光滑待测物体具有佳的测量效果。垂直物体比水平物体更容易瞄准,白色物体的量程大于黑色物体,四川激光测距仪公司,反射表面与光束方向垂直的物体要比表面方向偏离的物体更容易测量。对于那些特别对反射性予以设计的物体,能够获得测量范围,这样的物品包括交通指示牌、街道标志牌等。需要特别注意的是,窗户和玻璃这样的光滑物体并不像想象的那样是理想的待测目标,恰恰相反,由于它们会把激光反射到光源以外的方向,反而会极大地增大测量的难度。
测距测高仪优点
集测距测高测角于一体、量程远、精度高,配有Rxiry昕锐巡检APP,实现数据的实时存储及传输;X-pro高精度测距系列,可配昕锐巡检APP,轻松一键式测量可同时显示角度/直线距离/水平距离,远距离式测量,7倍高清LCD显示,免费保固两年X-S远距系列测距仪及高清望远镜系列产品,以其小巧外形、携带方便受广大用户的喜爱。